各位达人,
我们的项目有一个模块的设计碰到了这样一个问题,就是SRAM的良率。
方案一,使用 25K byte SRAM,只要这25K byte SRAM中有1个bit的存储位有问题,这个芯片就挂了。当然,我们设计了“自检测并纠正电路(先写后读,重复10遍,看是否一致)”,对出错的单元进行与冗余存储单元之间的地址映射。
方案二,使用 50K byte SRAM,和 512 byte SRAM,只要 512 byte SRAM中有问题(50Kbyte 中有问题没关系),芯片就挂了,当然,同前面一样,SRAM也作了冗余、自检测和地址映射。
现在的问题是,有的SRAM 问题带有随机性,10次不错,不代表永远不错,不同的电源环境也情况也不一样,这就在应用和推广中有一定的风险,而且关键SRAM越大,风险越大,所以,就来请教大家了,SRAM失效方面的经验,SRAM出错的概率有多大,随机性出错的概率有多大?



最新回复
amormio124 (2008-10-13 16:45:14)
如果你的IC内部需要的SRAM是一定的,那么良率与单个SRAM的大小似乎没有太大关系:
首先假设你一共要使用50K byte SRAM
那么方案一使用 25K byte SRAM,势必需要2颗,良率和方案二使用 50K byte SRAM几乎是一样的。
又假设25K byte SRAM就够用了,还何必考虑方案二尼?
另良率还和foundary有关,有些便宜但良率低,名字就不便说了。
amormio124 (2008-10-13 16:48:12)
IC有25KB/50KB SRAM,0.11制成,我觉得repare以后良率应该有90%。
dragonrelive (2008-10-13 21:41:14)
方案一有一些缺点,一是最终性能比方案二差一些;二就是这个SRAM的良率问题了,方案二的512 byte 如果全部换成D触发器,那么这个问题上的良率几乎可以达到100%。如果repare以后的良率都只有90%,那就不值得了阿,不过我们用的是0.13的工艺,不值大概会是多少。
另外,SRAM的问题可能有随机性和环境相关性,怕是在推广过程中造成麻烦。
我也想foundry问过这方面的事情,但是他们说不知道,没有这方面的经验。
amormio124 (2008-10-13 22:01:25)
应该是"方案一确实是总共只需要用25K,不用第二颗"吧,呵呵。
方案一最终性能比方案二差一些,这个是理所当然的,如果可以接受的话还是方案一吧。
方案二512 byte 如果全部换成D触发器,倒是没有必要,512B的SRAM已经很小了,良率没有那么糟哈。
如果整颗芯片只有50KB SRAM,又有repare的话,在下以为大于90%是很有希望的。
“SRAM的问题可能有随机性和环境相关性,怕是在推广过程中造成麻烦。”有这个可能性,但是几率太小,基本上不用担心,bist past的IC没有那么容易就坏了,不然市面上的电子产品还不早挂了。
dragonrelive (2008-10-14 16:09:05)
由于SRAM的不同方案差别只有整个芯片的4%左右,所以良率仅仅大于90%是远远不够的,我们整个产品的良率目标是90%,在这个问题上,能接受2%的不良怕都是极限了,不良率在最好是0.5%以内。
下面来说方案2的512 byte sram有没有必要换成D触发器?我所说的随机性和环境相关的SRAM失效担忧可能有点杞人忧天了(以前的确曾经碰到过类似的随机问题,搞得客户很愤怒)但是相信512byte的小小SRAM应该还是不会有问题的吧,尤其是我们增加一点Repair电路后。
所以,差不多就是会采用方案2吧,但是关于SRAM的各种失效的方式和概率分布,在以后的项目中恐怕还是会碰到的阿,还是得督促代工厂研究研究的。
amormio124 (2008-10-14 16:23:31)
我前面都是说的IC的良率,不是SRAM的良率。
fayfay521 (2008-10-15 11:02:25)