一个关于ATPG的概念

上一篇 / 下一篇 2006-10-08 17:37:42 / 天气: 晴朗 / 心情: 高兴

ATPG（auto test pattern generation）即包括组合逻辑也包括时序逻辑的测试，这是结构化测试的一种方法。ATPG主要的实现方法是full scan，就是按照chip scan chain的规划，把电路中所有的DFF串在一起，组成流水线的结构。检测两级DFF之间的组合逻辑，然后通过scan 通道把数据送出与期望值比较。此处的DFF是综合时已经经过扫描替代的scan DFF。
这种测试的目的是检查chip在foundary制造过程中的一些错误，简而言之就是检查片子上做出来的电路逻辑是不是正确的,由于组合逻辑检测算法较时序逻辑检测算法要完善的多，所以一般都是用组合逻辑的fault model（主要是stuck at类型）。
ATPG只是DFT的一个重要内容，还有其他的，针对memory的Mbist，针对PCB板级测试的BSD（JTAG）等。

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引用删除 vonkloud / 2008-05-07 16:15:10

引用删除 michael_xy / 2006-10-10 09:18:21: 评 3 分
ATPG在大规模电路测试中很有用，可以检测出电路在制造过程中的一些问题，一般有scan（基于扫描链），iddq（静态漏电流测试），membist（专门针对memory的一种测试方法），一般是先综合，在针对综合完的网表插入扫描链，然后可以用atpg自动生成测试矢量，一般在规模比较大的电路中会存在时序问题，表现为capture，及shift的时序问题，shift的问题可以通过加入lockup latch的方法解决，capture的问题可以采用多测试时钟来解决。

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